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多功能数字式四探针多功能数字式方阻测试仪 数字式双电测四探针测试仪
型号：AOD-FT-341
多功能数字式方阻测试仪是运用方形四探针Keywell测量原理的多用途综合测量装置，它与直线四探针相比，消除了探针游离对测试结果的不利影响，大大提高精确度，并提高微区测试能力，
它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
本测试仪特赠设测试结果分类功能，大分类10类
仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
三、基本技术参数
1.测量范围、分辨率
电 阻： 1.0×10-3～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω
电 阻 率： 1.0×10-3～ 20.0×103Ω-cm 分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω-cm
方块电阻： 1.0×10-3～ 20.0×103Ω/□ 分辨率1.0×10-3～ 0.1×103 Ω/□
2.可测半导体材料尺寸
直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或高）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3.量程划分及误差等级
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量程
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200.0
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20.00
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2.000
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200.0
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20.00
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2.000
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200.0
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kΩ-cm/□
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Ω-cm/□
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mΩ-cm/□
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误差
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±0.5%FSB±1LSB（在各量程范围内），超量程或欠量程可测量，但误差将随超欠程度而变大
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4)工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5)外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
净 重
基本技术参数
1.测量范围、分辨率
电 阻： 1.0×10-3～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω
电 阻 率： 1.0×10-3～ 20.0×103Ω-cm 分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω-cm
方块电阻： 1.0×10-3～ 20.0×103Ω/□ 分辨率1.0×10-3～ 0.1×103 Ω/□
2.可测半导体材料尺寸
直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或高）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3.量程划分及误差等级
开户行：中国工商银行股份有限公司北京地坛支行
帐户名：北京爱欧德仪器设备有限公司
帐 号： 0200245509020159078
开户行 ：中国工商银行股份有限公司北京地坛支行
帐户名 ：北京爱欧德科技有限公司
帐 号
：0200245509020158974
一、服务承诺：
1.我公司组建了一批强硬的维修服务队，有经验丰富的工程师和高级技师，对出现的问题都能在最短的时间内进行检测与解决。
2.七天内有质量问题无条件调换产品（人为原因除外）。
3.对我公司所销售出的产品，免费质保一年。
4.保质期内有关于产品质量引发的费用，由我公司承担。
5.保质期内由于贵方的使用不当，或者是自然环境造成的我方免费提供维修，维修所用的材料和配件均只收成本价。
二、运输方式：
1.所订购产品由我公司以快递形式交付到需方指定地点，包装费、运费有我公司支付。
2.货到之后，当场验货，如有损坏，由我公司负责。
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