四探针导体半导体电阻率测量仪 金属半导体电阻率测量仪 导体半导体金属薄膜材料电阻测试仪
型号DL-SB100A-2
DL-SB100A/2为原SB100/1及SB100A/1的改进型。
由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。
（使用环境5—40℃，相对湿度<80%，供电220V50Hz，为实验室环境使用）
SB100A/2由SB118直流电压电流源、PZ158A直流数字电压表、SB120/2四探针样品测试平台三部分组成。
lSB118直流电压电流源：是一台4½位的电压源及电流源，既可输出5µV—50V，5档可调电压，基本误差为±（0.1%RD+0.02%FS）又可输出1nA—100mA，5档可调电流，基本误差为±（0.03%RD+0.02%FS）详见本公司产品SB118。
lPZ158A直流数字电压表：具有6½位字长，0.1μV电压分辨力的带单片危机处理技术的高精度电子测量仪器，可测量0-1000V直流电压。基本量程的基本误差为±（0.002%RD+0.0005%FS），详见本公司产品PZ158A。
lSB120/2四探针样品测试平台：该测试平台是SB120/1测试平台的改进型。其有底座、支架、旋动部件、样品平台、四探针及接线板等组成。由于其整个结构及旋动方式都在原SB120/1的基础上作了很大的改进，故在高校的物理实验及科学研究总为导体/半导体/金属薄膜材料的电阻和电阻率的测试、研究提供了较大的方便。